應用區分:
阻值/阻抗量測(Sheet Resistance)/電阻率(Resistivity): CDE (Auto Mapping) / Jandel (Manual)
非接觸式阻值量測(Non-contact Resistivity Tester)
自動式方型面板用四點探針系統
載子生命(Lifetime)週期測試 (Life time Tester)
薄膜厚度量測(Thickness of Thin Film)
晶圓/ 晶片厚度量測(Wafer Thickness measurement)
晶圓/ 晶片彎曲度、平坦度量測( Wafer Bow/ Warp/ Flatness Measurement)
晶圓/ 晶片表面粗糙度量測 ( Wafer Roughness Measurement)
鋰電池捲繞設備-圓柱/方形-自動/半自動設備
材料/耗材:
砷化鎵(GaAs) 晶錠/ 晶片
碳化矽(SiC) 晶錠/ 晶片
鍺金屬(Germanium)/鍺棒/鍺單晶片
四點探針針頭: CDE ResMap/KT Rs meter/Napson/4Dimensions/AIT ...
矽材料/ 矽晶圓 / 高純金屬與化合物 /靶材
鋰電池測試/活化設備
防震裝置/光學桌/攜帶式震動測定儀
中古/二手機台: 半導體製程設備/ 量測設備 |
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